簡要描述:SuperViewW1白光干涉儀三維顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù),除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,具有的測量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。
詳細介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 否 |
SuperViewW1白光干涉儀三維顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù),除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,具有的測量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。
對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
SuperViewW1白光干涉儀三維顯微鏡載物臺尺寸為320*200mm(可定制),行程為140*110mm(可定制);測量的Z向范圍可達10mm(2.5X鏡頭),Z向的精度可高達0.1nm??梢詼y到12mm,也可以測到更小的尺寸,XY載物臺標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達0.4um,Z向掃描電機可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件。
在3C領(lǐng)域,可以測量藍寶石屏、濾光片、表殼等表面粗糙度;
在LED行業(yè),可以測量藍寶石、碳化硅襯底表面粗糙度;
在光纖通信行業(yè),可以測量光纖端面缺陷和粗糙度;
在集成電路行業(yè),可以測量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;
在EMES行業(yè),可以測量臺階高度和表面粗糙度;
在軍事領(lǐng)域,可以測量藍寶石觀察窗口表面粗糙度。
1.點擊XY復(fù)位,使得鏡頭復(fù)位到載物臺中心
2.將被測物放置在載物臺夾具上,被測物中心大致和載物臺中心重合;
3.確認電機連接狀態(tài)和環(huán)境噪聲狀態(tài)滿足測量條件;
4.使用操縱桿搖桿旋鈕調(diào)節(jié)鏡頭高度,找到干涉條紋;
5.設(shè)置好掃描方式和掃描范圍;
6.點擊選項圖標(biāo),確認自動找條紋上下限無誤;
7.點擊多區(qū)域測量圖標(biāo),可選擇方形和(橢)圓形兩種測量區(qū)域形狀;
8.根據(jù)被測物形狀和尺寸,"形狀"欄選擇“橢圓平面",X和Y方向按需設(shè)置;
9.點擊彈出框右下角的“開始"圖標(biāo),儀器即自動完成多個區(qū)域的對焦、找條紋、掃面等操作。
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