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光學三維輪廓儀

簡要描述:SuperViewW1光學三維輪廓儀采用白光干涉技術,結合具有抗噪性能的3D重建算法,具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-10
  • 訪  問  量:661

詳細介紹

品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
加工定制

SuperViewW1光學三維輪廓儀采用白光干涉技術,結合具有抗噪性能的3D重建算法,具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。


SuperViewW1光學3D表面輪廓儀,白光干涉儀品牌.jpg


SuperViewW1光學三維輪廓儀對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。


產(chǎn)品功能

1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;

3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;

4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


結果組成

1、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等;

2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;

3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;

4、薄膜和厚膜的臺階高度測量;

5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;

6、微電子表面分析和MEMS表征。

  

主要應用領域

1、用于太陽能電池測量;

2、用于半導體晶圓測量;

3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量;

4、用于機械部件的計量;

5、用于塑料,金屬和其他復合型材料工件的測量。


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