簡要描述:CH系列龍門影像儀測(cè)量儀器采用大理石主體機(jī)臺(tái)和精密伺服控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)低分貝級(jí)運(yùn)動(dòng)測(cè)量;充分發(fā)揮光學(xué)電動(dòng)變倍鏡頭的高精度優(yōu)勢(shì),具有高校,高精度,高柔性,非接觸等多種測(cè)量特點(diǎn),可檢測(cè)待測(cè)物體的上表面的盲孔、溝槽等復(fù)雜的、難以測(cè)量的部位尺寸,支持各種工件測(cè)量。適用于易變形、大小尺寸多、顏色種類多、并且不成批次工件的檢測(cè)。
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品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 是 |
中圖儀器CH系列龍門影像儀測(cè)量儀器將傳統(tǒng)影像測(cè)量與激光測(cè)量技術(shù)相結(jié)合,充分發(fā)揮光學(xué)電動(dòng)變倍鏡頭的高精度優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)2.5D和3D的復(fù)合測(cè)量。是一種運(yùn)用光學(xué)原理及成像處理技術(shù)的精密測(cè)量儀器。
CH系列龍門影像儀測(cè)量儀器采用大理石主體機(jī)臺(tái)和精密伺服控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)低分貝級(jí)運(yùn)動(dòng)測(cè)量;充分發(fā)揮光學(xué)電動(dòng)變倍鏡頭的高精度優(yōu)勢(shì),將傳統(tǒng)影像測(cè)量與激光測(cè)量技術(shù)相結(jié)合,具有高校,高精度,高柔性,非接觸等多種測(cè)量特點(diǎn),可檢測(cè)待測(cè)物體的上表面的盲孔、溝槽等復(fù)雜的、難以測(cè)量的部位尺寸,支持各種工件測(cè)量。適用于易變形、大小尺寸多、顏色種類多、并且不成批次工件的檢測(cè)。
1.量測(cè)工具:掃描提取邊緣點(diǎn)、多段提取邊緣點(diǎn)、圓形提取邊緣點(diǎn)、橢圓提取、框選提取輪廓線、聚焦點(diǎn)、最近點(diǎn)等。
2.可測(cè)幾何量: 點(diǎn)、線、圓(圓心坐標(biāo)、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、距、線寬、孔位、孔徑、孔數(shù)、孔到孔的距離、孔到邊的距離、弧線中心到孔的距離、弧線中心到邊的距離、弧線高點(diǎn)到弧線高點(diǎn)的距離、交叉點(diǎn)到交叉點(diǎn)的距離等。
3.構(gòu)建特征:交點(diǎn)、中心點(diǎn)、極值點(diǎn)、端點(diǎn)、兩點(diǎn)連線、平行線、垂線、切線、平分線、中心線、線段融合、半徑畫圓、三線內(nèi)切圓、兩線半徑內(nèi)切圓等。
4.形位公差:直線度、圓度、輪廓度、位置度、平行度、對(duì)稱度、垂直度、同心度、平行度等形位公差評(píng)定。
5.坐標(biāo)系:儀器坐標(biāo)系、點(diǎn)線、兩點(diǎn) X、兩線等工件坐標(biāo)系;圖像配準(zhǔn)坐標(biāo)系;可平移、旋轉(zhuǎn)、手工調(diào)整坐標(biāo)系。
6.快速工具:R角、水平節(jié)距、圓周節(jié)距、篩網(wǎng)、槽孔、輪廓比對(duì)、彈簧、O型圈等特殊工具快速測(cè)量。
7.支持公差批量設(shè)置、比例等級(jí)劃分、顏色自定義管理。
a.以非接觸式的光學(xué)測(cè)量為主,接觸式測(cè)量為輔,各傳感器的快速切換,可進(jìn)行全且準(zhǔn)的測(cè)量任務(wù);
B.效率高,非接觸式測(cè)量利用光學(xué)測(cè)量技術(shù)無需接觸產(chǎn)品表面,可實(shí)現(xiàn)效率高的測(cè)量;
c.通用性強(qiáng),光學(xué)測(cè)量針對(duì)接觸式測(cè)量無法實(shí)現(xiàn)接觸的特征,可通過光學(xué)放大及光強(qiáng)調(diào)節(jié)進(jìn)行測(cè)量,如微型特征,深槽內(nèi)特征及接觸易變形材料或薄件等。
CH系列影像儀將所有測(cè)量記錄進(jìn)行集中式管理,CNC測(cè)量支持掃碼槍輸入,按工件型號(hào)、工件名稱、檢測(cè)日期、工件識(shí)別碼等進(jìn)行查詢。
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