簡(jiǎn)要描述:3D形貌地圖配合色譜圖,非常直觀;但橫向測(cè)試范圍,縱向高度尺度也很關(guān)鍵。中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的SuperView W1光學(xué)3d輪廓儀用于測(cè)量精密工件的微納米三維形貌一鍵測(cè)量,自動(dòng)拼接功能能夠快速實(shí)現(xiàn)大區(qū)域、高精度的測(cè)量。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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加工定制 | 是 | 分辨率 | 0.1μm |
重復(fù)性測(cè)量精度 | 0.1% | z向分辨率 | 0.1nm |
測(cè)量范圍 | 140x110x100mm | 外形尺寸 | 900x700x604mm |
用途 | 測(cè)量精密工件的微觀形貌 |
3D形貌地圖配合色譜圖,非常直觀;但橫向測(cè)試范圍,縱向高度尺度也很關(guān)鍵。在超精密加工中,3D AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))是對(duì)傳統(tǒng)精密加工上的升級(jí),彌補(bǔ)了傳統(tǒng) AOI 由于2D成像原理上的一些缺陷,改進(jìn)設(shè)備性能以滿足各大電子廠對(duì)質(zhì)量和產(chǎn)品能得雙重要求。
中圖儀器基于白光干涉原理而研發(fā)生產(chǎn)的SuperView W1 光學(xué)3d輪廓儀,能以非接觸的方式,無(wú)損檢測(cè)精密機(jī)械加工表面;檢測(cè)結(jié)果以3D數(shù)據(jù)地圖的方式顯示,直觀地展示了表面紋理特征。
光學(xué)系統(tǒng)基于無(wú)限遠(yuǎn)顯微鏡系統(tǒng),通過(guò)干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)楣鈱W(xué)3D表面輪廓儀。除了負(fù)責(zé)產(chǎn)生干涉條紋,各類干涉物鏡還決定了系統(tǒng)許多關(guān)鍵性能,比如光學(xué)分辨率、工作距離、齊焦距離、坡度能力、視場(chǎng)范圍等等。數(shù)秒內(nèi),可以獲得平面和曲面表面上測(cè)量所有常見(jiàn)的粗糙度參數(shù)。也可以選擇拼接功能軟件升級(jí)來(lái)組合多個(gè)影像以提供大面積測(cè)量。
SuperView W1 光學(xué)3d輪廓儀特征
1、高垂直分辨率,強(qiáng)大的測(cè)量性能;
3、任何倍率下亞埃級(jí)至毫米級(jí)垂直測(cè)量量程;?
4、*的測(cè)量硬件,可靠性和重復(fù)性的保證;防振系統(tǒng);?
5、提高三維表面測(cè)量和分析速度數(shù)據(jù)處理速度和分析速度的多核處理器軟件;
6、數(shù)據(jù)無(wú)縫拼接能力;
7、三維光學(xué)輪廓儀高度直觀的用戶界面,擁有業(yè)界的實(shí)用性,操作簡(jiǎn)便和分析功能強(qiáng)大優(yōu)化的用戶界面大大簡(jiǎn)化測(cè)量和數(shù)據(jù)分析過(guò)程;*的可視化操作工具;可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面,微納米三維形貌一鍵測(cè)量。
技術(shù)指標(biāo)
標(biāo)準(zhǔn)配置
中圖儀器,歷經(jīng)了十多年的技術(shù)積累和發(fā)展實(shí)踐,除了Super View系列白光干涉儀,還有SJ2000系列指示表自動(dòng)檢定儀、SJ5100系列高精度測(cè)長(zhǎng)機(jī)、SJ6000系列激光干涉儀、GT系列激光跟蹤儀等眾多測(cè)量、計(jì)量設(shè)備。從納米到百米為用戶提供專業(yè)的精密測(cè)量解決方案!
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