在半導體、超精密加工及微納材料等領(lǐng)域,器件的表面質(zhì)量直接關(guān)系著后期的產(chǎn)品質(zhì)量和研究成果,中圖儀器SuperView W1系列光學3D表面輪廓儀,是一款分辨率達到亞納米級別的光學檢測儀器,助您輕松實現(xiàn)2D/3D表面粗糙度、輪廓測量,超高精度,“納”么簡單。
采用白光干涉技術(shù),結(jié)合具有優(yōu)異抗噪性能的3D重建算法,真實還原樣品的每一個細節(jié),隨意翻轉(zhuǎn)縮放,助您輕松觀察、測量樣品的任意特征。
粗糙度、平面度、孔洞分析、頂點分析等3D測量功能全部囊括,距離、角度、直徑測量等2D輪廓分析功能*覆蓋,更有依據(jù)ISO|ASME|EUR|GBT四大國內(nèi)外標準的300余種特征參數(shù),讓您對樣品的了解細致入微。
直觀的操作界面,讓您對操作流程一目了然,自動聚焦,助您一鍵實現(xiàn)測量過程;可視化的工作流程樹,一鍵激活的圖庫管理功能,所見即所得的同步分析功能,更有一鍵分析功能,批量測量不用愁。
采用了高精度掃描模塊和*的內(nèi)部抗振設計,可實現(xiàn)zui高0.05%的測量精度重復性和0.002nm的粗糙度RMS重復性,詮釋始終如一的測量品質(zhì)。
W1系列光學3D表面輪廓儀提供1100單鏡頭手動版和1200多鏡頭自動版兩種機型,另可針對不同的客戶需求,在兩種型號間選取不同配置進行組合,讓儀器切合客戶需求,貼心更省力。
可測2D/3D輪廓、粗糙度,300余種特征參數(shù)……光學3D表面輪廓儀在半導體、超精密加工及微納材料等領(lǐng)域可得到廣泛應用,超光滑硅晶片表面粗糙度、超精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑……一個個來自客戶的實際應用案例,讓我們對這款產(chǎn)品充滿信心,全程跟進的,為您提供zui貼心的服務。
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